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Napson非接触式电阻率测量仪EC-80P是一种采用涡电流原理进行非接触式电阻率测量的设备，适用于测量2-12寸晶圆，能够测量Si, SiC, GaN, GaAs等低阻及高阻半导体材料。该设备通过脉冲电压激励方法作为测量原理，可以在不损坏样品的情况下进行测量。涡流法主要用于非接触式测量，可测量1E-3（1m）至1E + 4（10k）Ω/□电阻范围，适用于半导体，化合物半导体，液晶和新型碳基材料等广泛领域的测量。此外，贰颁-80笔便携型非接触电阻率量测仪可测量笔狈极性，并具有温度补偿功能，多个量程探头可选。