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多检测型纳米粒度测量仪系统
多检测型纳米粒度测量仪系统

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃^*

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃^*

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃^*