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膜厚分布电阻率自动测量系统膜厚分布电阻率自动测量系统

适用于滨罢翱膜、各种金属薄膜等的膜厚分布和转印带电阻率分布的测量。

• 测量?演算?数据处理?可以实现叁维图表输出的自动化。
  （基板尺寸最大为650×）可以处理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 测量位置设置可以通过一键式网格输入、逐次输入叁种方式来完成。

• 从研究开发到生产线抽检均可广泛使用。

• 从低电阻率到高电阻率共有两种类型。

适用于滨罢翱膜、各种金属薄膜等的膜厚分布和转印带电阻率分布的测量。

• 测量?演算?数据处理?可以实现叁维图表输出的自动化。
  （基板尺寸最大为650×）可以处理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 测量位置设置可以通过一键式网格输入、逐次输入叁种方式来完成。

• 从研究开发到生产线抽检均可广泛使用。

• 从低电阻率到高电阻率共有两种类型。

适用于滨罢翱膜、各种金属薄膜等的膜厚分布和转印带电阻率分布的测量。

• 测量?演算?数据处理?可以实现叁维图表输出的自动化。
  （基板尺寸最大为650×）可以处理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 测量位置设置可以通过一键式网格输入、逐次输入叁种方式来完成。

• 从研究开发到生产线抽检均可广泛使用。

• 从低电阻率到高电阻率共有两种类型。