台式纸张薄膜反射率分光测色计
台式纸张薄膜反射率分光测色计
日本 MCRL 村上色彩技术研究所 颁惭厂-35惭齿Ⅱ 是一款「荧光色对应」台式分光测色计,专为含荧光增白剂(FWA)或荧光染料的样品设计,可同时测得 反射率、色度坐标、白度、荧光强度 等全套数据,适用于纸张、薄膜、塑料、化妆品、纺织、食品包装等行业的荧光色管理。核心要点如下:
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光源 | 脉冲氙灯(D65 模拟) |
| 光学结构 | d/8°(SCI/SCE 同步测量) |
| 波长间隔 | 10 nm |
| 反射率精度 | ±0.15 % |
| 色度重复性 | ΔE*ab ≤ 0.01(白板 10 次) |
| 荧光强度重复性 | Δ贵 ≤ 0.3 % |
| 测量孔径 | φ12 mm(标配),可选 φ6 mm / φ25 mm |
| UV 切换 | 360 nm 透射 vs 390 nm 截止,一键 |
| 测量时间 | < 3 s(含荧光计算) |
| 功能 | 颁惭厂-35惭齿Ⅱ | 普通 d/8 分光仪 |
|---|---|---|
| UV 物理切换 | ? | ?(需外置 UV LED) |
| 荧光强度 Δ贵 直接输出 | ? | ?(需手工差减) |
| 荧光白度 WI(2004)F | ? | ? |
| 荧光峰 420/460 自定义 | ? | ? |
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