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非接触式高精度工艺稳定型红外温度计

产物名称: 非接触式高精度工艺稳定型红外温度计
产物型号: IT-470F-H
产物特点: 非接触式高精度工艺稳定型红外温度计
先进*高精度温度计
IT-470F-H 是一款内置式非接触式红外温度计,具有业界先进的*精度。它有助于提高半导体和 FPD 生产的工艺稳定性。

*2017年内部研究的成果。

非接触式高精度工艺稳定型红外温度计 的详细介绍

非接触式高精度工艺稳定型红外温度计

非接触式高精度工艺稳定型红外温度计

应用

用于需要高精度温度测量的半导体和贵笔顿生产

  • 如果样品位于真空室中
    可以从室外通过窗口对样品进行温度测量。

  • 在贵笔顿生产过程中对液晶衬底的表面温度进行测量时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

  • 在抛光过程中进行温度控制时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

应用

用于需要高精度温度测量的半导体和贵笔顿生产

  • 如果样品位于真空室中
    可以从室外通过窗口对样品进行温度测量。

  • 在贵笔顿生产过程中对液晶衬底的表面温度进行测量时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

  • 在抛光过程中进行温度控制时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

应用

用于需要高精度温度测量的半导体和贵笔顿生产

  • 如果样品位于真空室中
    可以从室外通过窗口对样品进行温度测量。

  • 在贵笔顿生产过程中对液晶衬底的表面温度进行测量时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

  • 在抛光过程中进行温度控制时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

应用

用于需要高精度温度测量的半导体和贵笔顿生产

  • 如果样品位于真空室中
    可以从室外通过窗口对样品进行温度测量。

  • 在贵笔顿生产过程中对液晶衬底的表面温度进行测量时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。

  • 在抛光过程中进行温度控制时
    由于是非接触式测量,物体表面不会被损坏。



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