桌上型振子式半导体封装设计用冲击试验装置
桌上型振子式半导体封装设计用冲击试验装置
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 冲击力范围 | 0.1-10 N(可调) |
| 冲击次数 | 1-9999 次(可设定) |
| 冲击角度 | &辫濒耻蝉尘苍;30°(标准) |
| 振子质量 | 0.5 kg |
| 振子摆动速度 | 0.1-1.0 m/s(可调) |
| 测试平台尺寸 | 100 mm × 100 mm |
| 电源 | AC 100-240 V,50/60 Hz |
| 尺寸 | 400 mm × 300 mm × 500 mm |
| 重量 | 约 15 kg |
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 冲击力范围 | 0.1-10 N(可调) |
| 冲击次数 | 1-9999 次(可设定) |
| 冲击角度 | &辫濒耻蝉尘苍;30°(标准) |
| 振子质量 | 0.5 kg |
| 振子摆动速度 | 0.1-1.0 m/s(可调) |
| 测试平台尺寸 | 100 mm × 100 mm |
| 电源 | AC 100-240 V,50/60 Hz |
| 尺寸 | 400 mm × 300 mm × 500 mm |
| 重量 | 约 15 kg |
是一款电子部件用桌上型振子式冲击试验装置,专为小型电子元件、连接器、半导体封装等设计,用于测试其抗冲击性能。该设备通过振子摆动产生冲击力,模拟实际使用中的冲击环境是一款电子部件用桌上型振子式冲击试验装置,专为小型电子元件、连接器、半导体封装等设计,用于测试其抗冲击性能。该设备通过振子摆动产生冲击力,模拟实际使用中的冲击环境是一款电子部件用桌上型振子式冲击试验装置,专为小型电子元件、连接器、半导体封装等设计,用于测试其抗冲击性能。该设备通过振子摆动产生冲击力,模拟实际使用中的冲击环境是一款电子部件用桌上型振子式冲击试验装置,专为小型电子元件、连接器、半导体封装等设计,用于测试其抗冲击性能。该设备通过振子摆动产生冲击力,模拟实际使用中的冲击环境
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